Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Abuogo, James ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Factors Influencing the Power Cycling Lifetime of Paralleled IGBT Chips
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-6541-6 | |
| DOI: | doi:10.30420/566541343 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/11053608 | |
| Quelle: | PCIM Conference, 06-08 May 2025, Nürnberg, Germany, pp. 2576-2583, 2025 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Power Cycling Test , IGBT Modules , Paralleled Multiple Chips , Current Imbalance , Temperature Distribution , Heat Spreader , Lifetime Model |
