Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Bäumler, Christian* ; Basler, Thomas
Impact of IGBT emitter pad design and front-side aging on switching stability and temperature distribution
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2025.115738 | |
| Quelle: | ESREF Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 23.-26.09.2024, Parma, Microelectronics Reliability vol. 170, 2025, 115738 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | TSEP , Temperature distribution , Emitter pad design , Repetitive switching , Internal gate resistance , Artificial front-side aging | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
