Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Goller, Maximilian ; Franke, Jörg ; Lentzsch, Tobias ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas ; Mouhoubi, Samir ; Curatola, Gilberto
Determination of the Junction Temperature Under Load Current in GaN Power Devices with Schottky Gate Leakage Current as TSEP
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISBN: 979-8-3503-9482-5 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 979-8-3503-9483-2 ; Electronic ISSN: 1946-0201 ; Print on Demand(PoD) ISSN: 1063-6854 | |
| DOI: | doi:10.1109/ispsd59661.2024.10579696 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/10579696 | |
| Quelle: | 2024 36th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 02-06 June 2024, Bremen, Germany. - IEEE, 2024 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | GaN HEMT , TSEP , Schottky gate leakage , power cycling , online temperature monitoring |
