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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Abuogo, James* ; Schwabe, Christian* ; Lutz, Josef* ; Basler, Thomas*

Influence of Current Density on Power Cycling Test of Low Voltage MOSFETs in DC Body-Diode Mode and Switching MOSFET-Mode


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: Print ISBN: 978-3-8007-6288-0
URL/URN: https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/10564700
Quelle: CIPS 2024; 13th International Conference on Integrated Power Electronics Systems, Düsseldorf, Germany, 12-14 March 2024
Freie Schlagwörter (Englisch): Power Cycling with DC and Switching Losses , Discrete Power Device , Reliability , Low Voltage MOSFET

 

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