Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Heimler, Patrick* ; Reiter, Kristiane* ; Günther, Marco* ; Lutz, Josef* ; Basler, Thomas
Impact of the Level of Negative Gate Voltage on the Temperature Measurement during Power Cycling Testing of SiC MOSFETs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Print ISBN: 978-3-8007-6288-0 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/10564695 | |
| Quelle: | CIPS 2024; 13th International Conference on Integrated Power Electronics Systems, Düsseldorf, Germany, 12-14 March 2024 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Power Cycling , Discrete Power Device , Reliability , Silicon Carbide (SiC) , MOSFET |
