Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Deng, Erping* ; Liu, Xing ; Seidel, Peter ; Chen, Jie ; Lutz, Josef
Influence of power cycling ageing on the current and voltage transitions during hard switching of IGBT devices
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | Sonstiges | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0026-2714 | |
| URL/URN: | doi:10.1016/j.microrel.2021.114161 | |
| Quelle: | In: Microelectronics Reliability. - Elsevier. - 122. 2021 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT , Power cycling lifetime , Switching behavior |
