Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Deng, Erping* ; Borucki, Ludger ; Lutz, JOsef
Correction of Delay-Time-Induced Maximum Junction Temperature Offset during Electrothermal Characterization of IGBT Devices
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0885-8993 ; 1941-0107 | |
| DOI: | doi:10.1109/TPEL.2020.3011175 | |
| Quelle: | In: IEEE Transactions on Power Electronics. - IEEE. - 36. 2021, 3, pp. 2564 - 2573 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT , Power cycling test , Thermal impedance , Virtual junction temperature , Measurement delay time |
