Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Arnold, Markus ; Fechner, Axel ; Bollmann, Joachim ; Schmidt, Bernd ; Zahn, Dietrich R. T.
Charge Transient Spectroscopy Measurements of Metal-Oxide-Semiconductor (MOS) Structures
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Konferenzabstract | |
| ISBN/ISSN: | 04200195 | |
| Quelle: | Verhandlungen der DPG, Spring Meeting 2009 of the Condensed Matter, 22. - 27. März 2009, Dresden, S. 178. - Bad Honnef : DPG, 2009. - Reihe VI, Band 44, Nr. 5, 2009 |
