Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Salvan, Georgeta ; Himcinschi, Cameliu ; Kobitski, Andrei Yu ; Friedrich, Marion ; Wagner, Hans Peter ; Kampen, Thorsten U. ; Zahn, Dietrich R. T.
Crystallinity of PTCDA films on silicon derived via optical spectroscopic measurements
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut 1: | Juniorprofessur Organische Halbleiter | |
| Institut 2: | Professur Halbleiterphysik | |
| Institut 3: | Professur Optische Spektroskopie und Molekülphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0169-4332 | |
| DOI: | doi:10.1016/S0169-4332(01)00069-1 | |
| Quelle: | In: Applied Surface Science. - 175-176. 2001, S. 363-368 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | PTCDA , Silicon , Raman , Infrared , Photoluminescence spectroscopy |
