Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Bhojani, Riteshkumar* ; Baburske, Roman ; Mysore, Madhu Lakshman ; Kowalsky, Jens ; Lutz, Josef ; Niedernostheide, Franz-Josef ; Schulze, Hans-Joachim
Investigation of repetitive short-circuit operation of 1200 V IGBTs in the IC-VCEphase space
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN: 0026-2714 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2019.06.048 | |
| Quelle: | Microelectronics Reliability. - Elsevier. - 30th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Sep 23 - 26, Toulouse, 1-5, 2019 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT, Short-Circuit (SC), Current Filaments, Aluminium Modification, Degradation, Migration |
