Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Palanisamy, Shanmuganathan* ; Ahmmed, Md.Kayesar ; Kowalsky, Jens ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Investigation of the avalanche ruggedness of SiC MPS diodes under repetitive unclamped-inductive-switching stress
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Leistungselektronik | |
Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
ISBN/ISSN: | 0026-2714 | |
DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2019.113435 | |
Quelle: | In: Microelectronics Reliability. - Elsevier BV. 2019, S. 113435 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | avalanche stress , SiC , MPS diode , Power diode , Degradation , Repetitive avalanche stress |