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Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Palanisamy, Shanmuganathan* ; Ahmmed, Md.Kayesar ; Kowalsky, Jens ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas

Investigation of the avalanche ruggedness of SiC MPS diodes under repetitive unclamped-inductive-switching stress


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Artikel in Fachzeitschrift, referiert
ISBN/ISSN: 0026-2714
DOI: doi:10.1016/j.microrel.2019.113435
Quelle: In: Microelectronics Reliability. - Elsevier BV. 2019, S. 113435
Freie Schlagwörter (Englisch): avalanche stress , SiC , MPS diode , Power diode , Degradation , Repetitive avalanche stress

 

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