Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Edler, Frederik ; Miccoli, Ilio ; Pfnür, Herbert ; Tegenkamp, Christoph*
Space charge layer effects in silicon studied by in-situ surface transport
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Analytik an Festkörperoberflächen | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0953-8984, 1361-648X | |
| DOI: | doi:10.1088/1361-648x/ab094e | |
| Quelle: | In: Journal of Physics: Condensed Matter. - IOP Publishing. - 31. 2019, 21, S. 4001 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Schottky-barriers and space charge layers for Si-surfaces subsurface transport channels via angle- and temperature-dependent in situ transport measurements , space charge layer , surface transport , silicon surface | |
| OA-Lizenz | CC BY 3.0 |
