Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Azhniuk, Yuriy* ; Solonenko, Dmytro ; Loya, Vasyl ; Grytsyshche, Iaroslav ; Lopushansky, Vasyl ; Gomonnai, Alexander V. ; Zahn, Dietrich R. T.
Raman evidence for surface oxidation of amorphous As2S3 thin films under ultraviolet irradiation
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0169-4332 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.apsusc.2018.10.157 | |
| Quelle: | In: Applied Surface Science. - Elsevier BV. - 467-468. 2019, S. 119 - 123 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Amorphous semiconductor , Thin film , Surface oxidation , Ultraviolet irradiation , Raman spectroscopy , Atomic force microscopy |
