Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Baburske, Roman* ;
Niedernostheide, Franz-josef ;
Schulze, Hans-Joachim ;
Bhojani, Riteshkumar ;
Kowalsky, Jens ;
Lutz, Josef
Ciappa, M. ; Cova, P. ; Meneghesso, G. ; Iannuzzo, F. (eds.)
Unified view on energy and electrical failure of the short-circuit operation of IGBTs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2018.06.091 | |
| URL/URN: | https://doi.org/10.1016/j.microrel.2018.06.091 | |
| Quelle: | Proceedings of the 29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis ESREF, AALBORG, DENMARK, Oct. 1-5, pp. 236-241, 2018. - Elsevier, 2018 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Current filaments , Safe operating area , Thermal destruction , Current destruction , Current crowding , Thermal runaway , Overvoltage , Filament movement |
