Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Forghani, Kamran* ; Schade, Lukas ; Schwarz, Ulrich T. ; Lipski, Frank ; Klein, Oliver ; Kaiser, Ute ; Scholz, Ferdinand
Strain and defects in Si-doped (Al)GaN epitaxial layers
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Experimentelle Sensorik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0021-8979 (printed ed.) ; 1089-7550 (online ed.) | |
| DOI: | doi:10.1063/1.4761815 | |
| Quelle: | In: Journal of Applied Physics. - AIP Publishing. - 112. 2012, 9, 093102-1 - 093102-9 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Epitaxy , Semiconductor materials , Micro-photoluminescence , Transmission electron microscopy , Crystal lattices , X-ray diffraction , Thin films , Chemical elements , Doping , Crystallographic defects |
