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Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Chen, Weinan* ; Franke, Jörg ; Herold, Christian ; Bhojani, Riteshkumar ; Lutz, Josef

Internal processes in power semiconductors at virtual junction temperature measurement


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: ISSN: 0026-2714
URL/URN: http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2016.07.125
Quelle: Proceedings of the 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis ESREF, 2016
Freie Schlagwörter (Englisch): IGBT , Diode , Power cycling , Life-time , Reliability , End-of-life criterium , VCE(T)-method , Simulation

 

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