Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Chen, Weinan* ; Franke, Jörg ; Herold, Christian ; Bhojani, Riteshkumar ; Lutz, Josef
Internal processes in power semiconductors at virtual junction temperature measurement
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Leistungselektronik | |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
ISBN/ISSN: | ISSN: 0026-2714 | |
URL/URN: | http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2016.07.125 | |
Quelle: | Proceedings of the 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis ESREF, 2016 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT , Diode , Power cycling , Life-time , Reliability , End-of-life criterium , VCE(T)-method , Simulation |