Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Volltext zugänglich unter
URN: urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-159507
Seidel, Falko
Zahn, Dietrich R. T. (Prof. Dr. Dr. h. c.) ; Lang, Heinrich (Prof. Dr.) (Gutachter)
Dünne Siliziumschichten für photovoltaische Anwendungen hergestellt durch ein Ultraschall-Sprühverfahren
Kurzfassung in deutsch
Der hauptsächliche Bestandteil dieser Arbeit ist die Entwicklung einer kostengünstigen Methode zur Produktion von auf Silizium basierenden Dünnschicht-Solarzellen durch Sprühbeschichtung. Hier wird untersucht inwiefern sich diese Methode für die Herstellung großflächiger photovoltaische Anlagen eignet. Als Grundsubstanz für entsprechende Lacke werden Mischungen aus Organosilizium und nanokristallines Silizium verwendet. Eine Idee ist das Verwenden von Silizium-Kohlenstoff-Verbindungen als Si-Precursor (Cyclo-, Poly-, Oligo- und Monosilane). In jedem Fall, Organosilizium und Silizium- Nanopartikel, ist eine Umwandlung durch äußere Energiezufuhr nötig, um die Precursor-Substanz in photovoltaisch nutzbares Silizium umzuwandeln. Die Versuchsreihen werden mithilfe photothermischer Umwandlung (FLA-„flash lamp annealing“, einige 1 J/cm² bei Pulslängen von einigen 100 μs) unter N2-Atmosphäre durchgeführt. Zur Bereitstellung eines auf Laborgröße skalierten Produktionsprozesses wurden ein Spraycoater, eine Heizplatte, ein Blitzlampensystem und ein In-Line Ellipsometer in einem Aufbau innerhalb einer Glovebox unter N2-Atmosphäre kombiniert. Die Gewinnung von Proben und deren Charakterisierung fand in enger Zusammenarbeit mit den beiden Arbeitsgruppen der anorganischen Chemie und der Koordinationschemie an der TU-Chemnitz statt.Die eingesetzten Charakterisierungsmethoden sind Raman-Spektroskopie, Infrarotspektroskopie, Rasterelektronenmikroskopie, Transmissionselektronenmikroskopie, Elektronenbeugung, Röntgenbeugung, energiedispersive Röntgenspektroskopie, Rasterkraftmikroskopie und elektrische Charakterisierung wie die Aufnahme von Strom- Spannungs-Kennlinien und Widerstandsmessung per Vierpunktkontaktierung.
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Fakultät: | Fakultät für Naturwissenschaften | |
| Dokumentart: | Dissertation | |
| Betreuer: | Zahn, Dietrich R. T. (Prof. Dr. Dr. h. c.) | |
| URL/URN: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-159507 | |
| SWD-Schlagwörter: | Solarzelle , Photovoltaik , Silicium , Nanopartikel , Siliciumverbindungen , Silan , Zinkoxid , Vorläufer , Sprühen , Drucken , Blitzlampe , Spektroskopie , Beugung , Rastermikroskop , Ellipsometrie , Optische Messung , Prozessüberwachung | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Solarzellen , Photovoltaik , Silizium , Nanopartikel , Organosilizium , Silan , Zinkoxid , Präkursoren , Sprühbeschichtung , Drucken , Blitzlampenpyrolyse , Inerte Glovebox , Raman-Spektroskopie , Fourier-Transformationsinfrarotspektroskopie , Rasterelektronenmikroskopie , Energiedispersive Röntgen-Spektroskopie , Röntgen-Beugung , Transmissionselektronenmikroskopie , Rasterkraftmikroskopie , Spektroskopische Ellipsometrie , in-situ , in-line , Solar cells , Photovoltaic , Silicon , Nanoparticle , Organosilicon , Silane , Zincoxide , Precursor , Spray coating , Printing , Flash lamp annealing , Inert glove box , Raman spectroscopy , Fourier transform infrared spectroscopy , Scanning electron microscopy , Energy dispersive X-ray spectroscopy , X-ray-diffraction , Transmission electron microscopy , Atomic force microscopy , Spectroscopic ellipsometry , in-situ , in-line | |
| DDC-Sachgruppe: | Techniken, Ausstattung, Materialien, Physik, Chemie | |
| Tag der mündlichen Prüfung | 19.12.2014 |
