Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Pertermann, Eric ;
Lutz, Josef ;
Basler, Thomas ;
Felsl, Hans Peter ;
Schulze, Hans-Joachim ;
Niedernostheide, Franz-Josef
Benda, Lutz, Molhanec
Detection of Deep Energy Levels in Semiconductors Using Frequency-Resolved Impedance Spectroscopy
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-80-01-05555-7 | |
| Quelle: | 12th International Seminar On Power Semiconductors ISPS'14, 27-29 August 2014, Prag, S. 73-77. - Prag, 2014 | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | DLTS, tiefe Störstellen, Frequenzabhängige Admittanzspektroskopie, Energieniveau | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | admittance spectroscopy, DLTS, energy level, impurity |
