Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Pertermann, Eric ; Lutz, Josef ; Arnold, Markus ; Zahn, Dietrich R. T. ; Schulze, Hans-Joachim ; Felsl, Hans Peter ; Niedernostheide, Franz-Josef
Measurements and Simulations of the Turn-Off Behaviour of Diodes with Deep Energy Levels of Se implanted in Si
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut 1: | Professur Leistungselektronik | |
| Institut 2: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-90-75815-17-7, 978-1-4799-0114-2 | |
| URL/URN: | http://www.epe2013.com/ | |
| Quelle: | EPE'13 ECCE Europe, 15th European Conference on Power Electronics and Applications, 3-5 September 2013, Lille, France, 2013 | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Diode , Bauelementsimulation , Ausschaltverhalten | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Diode , Device simulation , Reverse recovery |
