Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | On the Equivalency of AC and DC Hot Carrier Stress in Power LDMOS Devices | Prigann, Sven et al. | 2025 |
| 2 | Prompt Shift of On-State Resistance in LDMOS Devices: Causes, Recovery, and Reliability Implications | Prigann, Sven* et al. | 2024 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 2 |