Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | An Accelerated Dynamic Gate Switching Stress Test Concept for SiC MOSFETs at High Drain Drain-Source Voltage (HV-GSS) | Herrmann, Clemens* et al. | 2024 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 1 |