| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
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| 1 | Influencing Factors on the Dynamic VSD Behaviour of different SiC-MOSFET Technologies used for Temperature Read-Out via VSD(T)-Method during the Power Cycling Test | Heimler, Patrick* et al. | 2025 |
| 2 | Neuer Ansatz zur Messung & Simulation in der Blechumformung | Ackert, Patrick et al. | 2015 |
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Veranstaltung an der TU Chemnitz brachte am 5. März 2026 Wissenschaft, Klinik und Industrie zusammen …
Ehemalige sind vom 8. bis 10. Mai 2026 herzlich zum 13. Alumni-Treffen eingeladen – Ein Highlight ist die Ehrung mit Jubiläumsdiplomen – Anmeldung ist bis zum 26. April möglich …
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„Women in STEM“, organisiert von der Universität Udine und Across. Prof. …
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