Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | Utilizing Generative Adversarial Networks for Image Data Augmentation and Classification of Semiconductor Wafer Dicing Induced Defects | Hu, Zhining et al. | 2024 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 1 |