| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | A Novel Test Method for Bipolar Degradation under Short Dead Times | Herrmann, Clemens et al. | 2025 |
| 2 | Dead Time Dependency of Bipolar Degradation in SiC MOSFETs | Herrmann, Clemens et al. | 2025 |
| 3 | Energy Balancing in Paralleled SiC MOSFETs During an Avalanche Event | Herrmann, Clemens* et al. | 2024 |
| 4 | Avalanche Robustness of SiC MOSFETs in Parallel Connections | Herrmann, Clemens et al. | 2023 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 4 |
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