Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | Reliability Assessment of Ag Sintered Joints Using a SiC Semiconductor and Determination of Failure Mechanism in the Field of Power Electronics | Schaal, Marco* et al. | 2020 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 1 |