Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | Dynamic Characterization and Robustness of SiC MOSFETs Based on SmartSiCTM Engineered Substrates | Alaluss, Mohamed* et al. | 2025 |
| 2 | Plasma Behavior of SiC MOSFETs with Engineered Substrates During Reverse Recovery | Alaluss, Mohamed et al. | 2025 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 2 |