Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Lutz, Josef ; Baburske, Roman ; Chen, Min ; Heinze, Birk ; Domeij, Martin ; Felsl, Hans-Peter ; Schulze, Hans-Joachim
The nn+-Junction as the Key to Improved Ruggedness and Soft Recovery of Power Diodes
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN: 0018-9383 | |
| URL/URN: | doi:10.1109/TED.2009.2031019 | |
| Quelle: | In: IEEE Transactions on Electron Devices. - Volume: 56. 2009, Issue: 11, S. 2825 - 2832 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Avalanche , dynamic avalanche , power diodes , reverse recovery |
