Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Bayerer, Reinhold ; Licht, Thomas ; Herrmann, Tobias ; Lutz, Josef ; Feller, Marco
Model for Power Cycling lifetime of IGBT Modules – various factors influencing lifetime
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISBN 978-3-8007-3089-6 | |
| Quelle: | Proceedings of the 5th International Conference on Integrated Power Electronic Systems (CIPS), p 55-58 (2008). - Berlin Offenbach : VDE Verlag, 2008. - ETG Fachbericht 111 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Power Semiconductors , Reliability , Power Cycling |
