Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Lee, Hyung-Seok ; Domeij, Martin ; Zetterling, C.-M. ; Oestling, M. ; Heinze, Birk ; Lutz, Josef
Influence of the base contact on the electrical characteristics of SiC BJTs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, nicht referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1424410959 | |
| Quelle: | Proceedings of 19th International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's, 2007 (Proceeding of ISPSD'07). - Jeju Island, Korea : IEEE, 2007, S. 153 - 156 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | silicon carbide, bipolar junction transistor,silicon carbide, bipolar junction transistor, current gain, contact resistance, specific on-resistance |
