Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Heinze, Birk ; Lutz, Josef ; Felsl, Hans Peter ; Schulze, Hans-Joachim
Ruggedness Analysis of 3.3kV High Voltage Diodes considering various Buffer Structures and Edge Terminations
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0026-2692 | |
| URL/URN: | doi:10.1016/j.mejo.2007.11.023 | |
| Quelle: | In: Microelectronics Journal. - 39. 2008, 6, S. 868 - 877 | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Freilauf-Dioden , Bufferstrukturen , Randabschluss , Filamentierung , Dynamischer Avalanche , Bauelementesimulation | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Free-wheeling diodes , buffer structures , edge termination , filamentation , dynamic avalanche , device simulation |
