Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Schwabe, Christian* ; Liu, Xing ; Wassermann, Tobias N. ; Salmen, Paul ; Basler, Thomas
SiC MOSFET threshold voltage stability during power cycling testing and the impact on the result interpretation
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISBN: 978-1-6654-5672-2 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 978-1-6654-5673-9 ; Electronic ISSN: 1938-1891 ; Print on Demand(PoD) ISSN: 1541-7026 | |
| DOI: | doi:10.1109/IRPS48203.2023.10118274 | |
| Quelle: | 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 26-30 March 2023, Monterey, CA, USA | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | interface defects , power MOSFET , reliability , silicon carbide , threshold voltage |
