Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Tayyab, Muhammad Farhan* ; Silvestri, Marco ; Bernardoni, Mirko ; Basler, Thomas ; Curatola, Gilberto
Dynamic high temperature operating life test methodology for long-term switching reliability of GaN power devices
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0026-2714 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2022.114613 | |
| Quelle: | In: Microelectronics Reliability. - Elsevier BV. - 138. 2022, 114613 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | GaN power HEMT , Dynamic RDSON , Switching Reliability |
