Springe zum Hauptinhalt
Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Mysore, Madhu Lakshman ; Alaluss, Mohamed ; Maitra, Abhishek ; Basler, Thomas ; Baburske, Roman ; Niedernostheide, Franz-Josef ; Schulze, Hans-Joachim

Investigation of the Short Circuit Type II Safe Operating Area of IGBTs


Universität: Technische Universität Chemnitz
Förderung: EU
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 9789075815405
URL/URN: https://epe2022.com/
Quelle: EPE’22 ECCE Europe, the 24rd European Conference on Power Electronics and Applications, in Hannover, Germany, from 5 to 9 September 2022
Freie Schlagwörter (Englisch): IGBT , Short circuit , Current filaments , Device simulation , Robustness

 

Soziale Medien

Verbinde dich mit uns: