Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Goller, Maximilian* ;
Thim, Marc André ;
Song, Jianhua ;
Kowalsky, Jens ;
Franke, Jörg ;
Lutz, Josef
Iannuzzo, Francesco ; Papaioannou, George ; Melanitis, Nikolaos ; Gardelis, Spiros ; Komninou, Philomela
Investigation of the current collapse behaviour in GaN power HEMTs with highly adjustable pulse and measurement concept
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | BMBF | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN: 0026-2714 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2020.113909 | |
| URL/URN: | https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0026271420305230?via%3Dihub#ab0005 | |
| Quelle: | In31st European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2020, Athen. - Microelectronics Reliability. - Elsevier B.V. - 114. 2020, 113909 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Gallium Nitride , GaN power HEMT , Dynamic RDSon , Current collapse , Soft switching operation |
