Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Measurement Error Caused by the Square Root t Method Applied to IGBT Devices during Power Cycling Test
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-1-7281-4836-6 | |
| DOI: | doi:10.1109/ISPSD46842.2020.9170083 | |
| Quelle: | 2020 32nd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD). - IEEE, 2020 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | power cycling test , virtual junction temperature , IGBT |
