Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Liu, Xing* ; Kowalsky, Jens ; Herrmann, Clemens ; Basler, Thomas ; Lutz, Josef
Influence of the gate resistance on the short circuit type II & III behavior of IGBT modules and protection
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-5245-4 ; 2191-3358 | |
| Quelle: | International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, PCIM Europe digital days 2020, 07. - 08.07.2020, Nuremberg, pp. 263 - 271. - Berlin, Offenbach : VDE VERLAG GMBH, 2020 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | semiconductor power devices , insulated gate bipolar transistor , short circuit type I and II , gate drive unit , gate turn-on resistance , gate voltage clamping , short circuit detection |
