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Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Pflügler, Nadine* ; Pufall, Reinhard ; Goroll, Michael ; Breitenreiner, S ; Wunderle, Bernhard

Time-dependent behaviour of bonded silicon dies under subcritical, constant shear loading


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: Electronic ISBN: 978-0-9568086-6-0 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 978-1-7281-6291-1
DOI: doi:10.23919/EMPC44848.2019.8951792
Quelle: 22nd European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC),16-19 Sept. 2019, Pisa, Italy. - IEEE, 2019
Freie Schlagwörter (Englisch): Button shear test , reliability , electronic packaging , energy release rate , fracture mechanics

 

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