Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Pflügler, Nadine* ; Pufall, Reinhard ; Goroll, Michael ; Breitenreiner, S ; Wunderle, Bernhard
Time-dependent behaviour of bonded silicon dies under subcritical, constant shear loading
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme | |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
ISBN/ISSN: | Electronic ISBN: 978-0-9568086-6-0 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 978-1-7281-6291-1 | |
DOI: | doi:10.23919/EMPC44848.2019.8951792 | |
Quelle: | 22nd European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC),16-19 Sept. 2019, Pisa, Italy. - IEEE, 2019 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | Button shear test , reliability , electronic packaging , energy release rate , fracture mechanics |