Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Hielscher, R. ; Silbermann, C. B. ; Schmidl, E. ; Ihlemann, Jörn
Denoising of crystal orientation maps
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut 1: | Professur Angewandte Funktionalanalysis | |
Institut 2: | Professur Festkörpermechanik | |
Institut 3: | Professur Werkstoff- und Oberflächentechnik | |
Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
ISBN/ISSN: | 1600-5767 | |
DOI: | doi:10.1107/s1600576719009075 | |
Quelle: | In: Journal of Applied Crystallography. - International Union of Crystallography (IUCr). - 52. 2019, 5, S. 984 - 996 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | electron backscatter diffraction , measurement errors , denoising; inpainting , kernel average misorientation , geometrically necessary dislocations |