Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Rodriguez, Raul D.* ; Khan, Zoheb ; Ma, Bing ; Mukherjee, Ashutosh ; Meszmer, Peter ; Kalbacova, Jana ; Garratt, Elias ; Shah, Harsha ; Heilmann, Jens ; Hight Walker, Angela R. ; Wunderle, Bernhard ; Sheremet, Evgeniya ; Hietschold, Michael ; Zahn, Dietrich R. T.
Ion-Induced Defects in Graphite: A Combined Kelvin Probe and Raman Microscopy Investigation
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut 1: | Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme | |
| Institut 2: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1862-6300, 1862-6319 | |
| DOI: | doi:10.1002/pssa.201900055 | |
| Quelle: | In: physica status solidi (a). - Wiley. - 216. 2019, 19, 1900055 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | defects , focused ion beam , graphite , graphene , Kelvin probe force , microscopy , nanocharacterization , Raman spectroscopy |
