Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Schwabe, Christian* ; Seidel, Peter ; Lutz, Josef
Simulation of current crowding in inverse diodes of low-voltage Si MOSFETs at power cycling
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Leistungselektronik | |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
ISBN/ISSN: | 978-9-0758-1530-6 | |
Quelle: | EPE 2019, 2-5.09.2019, Genoa, IEEE catalog number: CFP19850-USB P.1-7. - IEEE, 2019, 457 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | Power cycling , MOSFET , Simulation , Reliability , Thermal stress |