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Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Zeng, Guang ; Herold, Christian ; Methfessel, Torsten ; Schafer, Marc ; Schilling, Oliver ; Lutz, Josef

Experimental investigation of linear cumulative damage theory with power cycling test


Universität: Technische Universität Chemnitz
Förderung: Industrie/Wirtschaft
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Artikel in Fachzeitschrift, referiert
ISBN/ISSN: 0885-8993, 1941-0107
DOI: doi:10.1109/tpel.2018.2859479
Quelle: In: IEEE Transactions on Power Electronics. - Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). - 34. 2019, 5, S. 4722 - 4728
Freie Schlagwörter (Englisch): Insulated-gate bipolar transistor (IGBT) , lifetime prediction , linear cumulative damage theory , Miner's rule , power cycling test

 

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