Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Zeng, Guang ; Herold, Christian ; Methfessel, Torsten ; Schafer, Marc ; Schilling, Oliver ; Lutz, Josef
Experimental investigation of linear cumulative damage theory with power cycling test
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Förderung: | Industrie/Wirtschaft | |
Institut: | Professur Leistungselektronik | |
Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
ISBN/ISSN: | 0885-8993, 1941-0107 | |
DOI: | doi:10.1109/tpel.2018.2859479 | |
Quelle: | In: IEEE Transactions on Power Electronics. - Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). - 34. 2019, 5, S. 4722 - 4728 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | Insulated-gate bipolar transistor (IGBT) , lifetime prediction , linear cumulative damage theory , Miner's rule , power cycling test |