Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Lutz, Josef ;
Aichinger, Thomas ;
Rupp, Roland
Suganuma, Katsuaki (Hrsg.)
Reliability evaluation
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Buchbeitrag | |
| ISBN/ISSN: | 0-08-102095-3 ; 978-0-08-102095-1 ; Weitere Ausgaben: 0-08-102094-5 ; 978-0-08-102094-4 (Printausgabe) | |
| DOI: | doi:10.1016/B978-0-08-102094-4.00009-8 | |
| URL/URN: | https://doi.org/10.1016/B978-0-08-102094-4.00009-8 | |
| Quelle: | In: Suganuma, Katsuaki (Hrsg.): Wide Bandgap Power Semiconductor Packaging. - Duxford, United Kingdom : Woodhead Publishing, 2018, S. 155 - 197 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Gate Oxide , Power Cycling |
