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Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Franke, Jörg* ; Zeng, Guang ; Winkler, Tom ; Lutz, Josef

Power cycling reliability results of GaN HEMT devices


Universität: Technische Universität Chemnitz
Förderung: BMBF
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 978-1-5386-6826-9
Quelle: Proceedings of the 30th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs, May 13-17, 2018 Chicago, USA, pp. 467-470. - IEEE, 2018
Freie Schlagwörter (Englisch): HEMT , reliability , temperature measurement , power cycling test , lifetime estimation , failure mechanisms

 

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