Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Palanisamy, Shanmuganathan ; Kowalsky, Jens ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas ; Rupp, Roland ; Moazzami-Fallah, Jasmin
Repetitive surge current test of SiC MPS diode with load in bipolar regime
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Leistungselektronik | |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
ISBN/ISSN: | 978-1-5386-2927-7 | |
Quelle: | Proceedings of the 30th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs, MAY 13-17, 2018, Chicago, USA, pp. 367-370 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | 4H-SiC , Merged Pin Schottky diode , Repetitive surge current behaviour , Surge current , Degradation mechanisms , Bipolar and Unipolar degradation , Schottky barrier |