Springe zum Hauptinhalt
Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Palanisamy, Shanmuganathan ; Kowalsky, Jens ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas ; Rupp, Roland ; Moazzami-Fallah, Jasmin

Repetitive surge current test of SiC MPS diode with load in bipolar regime


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 978-1-5386-2927-7
Quelle: Proceedings of the 30th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs, MAY 13-17, 2018, Chicago, USA, pp. 367-370
Freie Schlagwörter (Englisch): 4H-SiC , Merged Pin Schottky diode , Repetitive surge current behaviour , Surge current , Degradation mechanisms , Bipolar and Unipolar degradation , Schottky barrier

 

Soziale Medien

Verbinde dich mit uns: