Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Tinschert, Lukas* ; Hernes, Magnar ; Lutz, Josef
Improving the short circuit ruggedness of IGBTs
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Leistungselektronik | |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
ISBN/ISSN: | 0026-2714 | |
URL/URN: | http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2016.07.140 | |
Quelle: | In: Microelectronics Reliability. - Pergamon Press. - 64. 2016, pp 519–523. - Proceedings of the 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | Short circuit , IGBT , ruggedness , simulation |