Springe zum Hauptinhalt
Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Tinschert, Lukas* ; Hernes, Magnar ; Lutz, Josef

Improving the short circuit ruggedness of IGBTs


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 0026-2714
URL/URN: http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2016.07.140
Quelle: In: Microelectronics Reliability. - Pergamon Press. - 64. 2016, pp 519–523. - Proceedings of the 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
Freie Schlagwörter (Englisch): Short circuit , IGBT , ruggedness , simulation

 

Soziale Medien

Verbinde dich mit uns: