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Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Herold, Christian ; Franke, Jörg ; Schleicher, André ; Kowalsky, Jens ; Lutz, Josef
DVS - Deutscher Verband für Schweißen und verwandte Verfahren e.V.

Analyse chipnaher Verbindungen mittels thermisch sensibler elektrischer Parameter

Analysis of chip close connections via thermal sensitive elektrical parameters


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Artikel in Fachzeitschrift, nicht referiert
ISBN/ISSN: 9783945023600
Quelle: In: Jahrbuch Mikroverbindungstechnik 2015/2016. - Düsseldorf : DVS Media GmbH. - 2015/2016. 2015, S. 120 - 134
Freie Schlagwörter (Deutsch): Lastwechseltest , IGBT , VCE(T)-Methode , Wurzel-t Methode
Freie Schlagwörter (Englisch): power cycling test , IGBT , VCE(T)-methode , square-root t Methode

 

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