Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Kowalsky, Jens ; Simon, Tom ; Geske, Martin ; Basler, Thomas ; Lutz, Josef
Surge Current Behaviour of Different IGBT Designs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-3924-0 | |
| Quelle: | PCIM Europe, 19. - 21.05.2015, S. 502-511. - Berlin, Offenbach : VDE VERLAG, 2015 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT , surge current , lifetime , temperature , gate voltage , desaturation , FRT , Stresstest , High Voltage , Low Voltage , Medium Voltage |
