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Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Lutz, Josef ; Baburske, Roman
Elsevier

Some aspects on ruggedness of SiC power devices


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Artikel in Fachzeitschrift, referiert
ISBN/ISSN: ISSN: 0026-2714
URL/URN: http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2013.09.022
Quelle: In: Microelectronics Reliability. - 54. 2014, 1, S. 49 - 56
Freie Schlagwörter (Englisch): Ruggedness , Dynamic Avalanche , Second Breakdown , Cosmic Ray Failures , Junction Termination , Surge Current

 

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