Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Lutz, Josef ;
Baburske, Roman
Elsevier
Some aspects on ruggedness of SiC power devices
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Leistungselektronik | |
Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
ISBN/ISSN: | ISSN: 0026-2714 | |
URL/URN: | http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2013.09.022 | |
Quelle: | In: Microelectronics Reliability. - 54. 2014, 1, S. 49 - 56 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | Ruggedness , Dynamic Avalanche , Second Breakdown , Cosmic Ray Failures , Junction Termination , Surge Current |