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Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Liebig, Sebastian ; Nuber, Markus ; Engstler, Jürgen ; Engler, Alfred ; Lutz, Josef

Characterisation and evaluation of 1700V SiC-MOSFET modules for use in an active power filter in aviation


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 978-3-8007-3431-3
Quelle: PCIM Europe, 8 - 10 May 2012, Nuremberg. - Berlin/Offenbach : VDE Verlag GmbH, 2012
Freie Schlagwörter (Deutsch): SiC , Mosfet , Charakterisierung , Schaltverhalten , Schaltverluste , Halbleiter , Chip , Höhenstrahlung , Zuverlässigkeit , Lebensdauer
Freie Schlagwörter (Englisch): SiC , Mosfet , characterisation , semiconductor , cosmic , radiation , reliability , lifetime , switching , losses

 

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