Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Liebig, Sebastian ; Nuber, Markus ; Engstler, Jürgen ; Engler, Alfred ; Lutz, Josef
Characterisation and evaluation of 1700V SiC-MOSFET modules for use in an active power filter in aviation
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Leistungselektronik | |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
ISBN/ISSN: | 978-3-8007-3431-3 | |
Quelle: | PCIM Europe, 8 - 10 May 2012, Nuremberg. - Berlin/Offenbach : VDE Verlag GmbH, 2012 | |
Freie Schlagwörter (Deutsch): | SiC , Mosfet , Charakterisierung , Schaltverhalten , Schaltverluste , Halbleiter , Chip , Höhenstrahlung , Zuverlässigkeit , Lebensdauer | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC , Mosfet , characterisation , semiconductor , cosmic , radiation , reliability , lifetime , switching , losses |